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什么是電子產(chǎn)品高溫老化篩選？高溫老化篩選也稱高溫老化房或步入式老化試驗(yàn)室，就是苛刻地考驗(yàn)它或“努力去燒掉它”的意思，也是一種的破壞性測(cè)試，只有那些被極力折磨過而幸存下來的產(chǎn)品才是過硬產(chǎn)品，信譽(yù)企業(yè)只會(huì)將這些賣給用戶。高溫老化是很有效的一種篩選方法，是電子產(chǎn)品必須進(jìn)行的篩選手段之一。
 高溫老化通常是將電子產(chǎn)品置于高溫條件下，其中做高溫老化篩選的設(shè)備有高溫老化房、老化箱等，施加相應(yīng)的電壓、負(fù)載，以獲得足夠大的篩選應(yīng)力，達(dá)到剔除早期失效產(chǎn)品的目的。所施加的電應(yīng)力，包括輸入的交流高壓、功率老化、電壓沖擊。使電子產(chǎn)品內(nèi)部的元器件在老化過程中能經(jīng)受工作狀態(tài)下的zui大功耗和應(yīng)力。超功率老化顯然縮短老化時(shí)間，但也有可能使器件瞬時(shí)負(fù)載超過zui大額定值，使合格器件遭受損傷，甚至發(fā)生即時(shí)劣化或擊穿。有的電子產(chǎn)品產(chǎn)品可能暫時(shí)還能工作，但壽命卻縮短了。所以，對(duì)于超功率老化來說，并不是超得越多越有效果，而是應(yīng)該選擇一個(gè)適當(dāng)?shù)某?fù)荷量?，F(xiàn)在比較一致的方法是對(duì)電源施加zui大額定功率，適當(dāng)延長(zhǎng)老化時(shí)間，是比較合理的電功率老化篩選方法。
可靠性篩選試驗(yàn)設(shè)計(jì)的目的是要確定試驗(yàn)條件，包括試驗(yàn)的項(xiàng)目、試驗(yàn)應(yīng)力和試驗(yàn)時(shí)間。由于不同類型的電源產(chǎn)品，不同的生產(chǎn)廠家或使用不同的材料、結(jié)構(gòu)、工藝流程所生產(chǎn)的電子產(chǎn)品其失效機(jī)理是不同的，并且早期失效期與偶然失效期的分界點(diǎn)也不可能一樣，很難制訂一個(gè)適應(yīng)各種電子產(chǎn)品的統(tǒng)一的可靠性篩選試驗(yàn)條件。因此，必須針對(duì)產(chǎn)品的特點(diǎn)進(jìn)行大量的可靠性試驗(yàn)或可靠性篩選摸底試驗(yàn)，掌握產(chǎn)品的失效分布以及失效機(jī)理與篩選試驗(yàn)項(xiàng)目、應(yīng)力和時(shí)間的關(guān)系，而后才能正確地?cái)M定出該產(chǎn)品的可靠性篩選試驗(yàn)條件。

顯然，如果可靠性老化篩選試驗(yàn)條件不妥當(dāng)，則可能會(huì)使一些電源產(chǎn)品因篩選試驗(yàn)強(qiáng)度不夠而造成可靠性和穩(wěn)定性不能滿足要求，或者因?yàn)槁┑舯匾暮Y選試驗(yàn)項(xiàng)目而使這部分早期失效品未能篩選出來。另外，也可能因篩選試驗(yàn)條件過嚴(yán)而把本來是好的電子產(chǎn)品剔除掉一部分。